CAF試驗/CAF測試是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

離子遷移試驗設備，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

離子遷移實驗裝置 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。