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          產品展示首頁 > 產品展示 > 日本J-RAS > 離子遷移試驗裝置(CAF) > 2000V離子遷移實驗裝置

          2000V離子遷移實驗裝置

          簡要描述:2000V離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

          • 更新時間:2022-08-11
          • 訪  問  量:890
          • 廠商性質:生產廠家
          • 產品型號:
          品牌其他品牌產地進口
          加工定制

          高電圧絶縁計測+100n秒以下の高速イベント収録
          高電圧絶縁信頼性試験裝置 HVUαシリーズ

          HVUα本體

          製品の特?

          • 100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)

          • CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加

          • CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能

          • 機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し

          • 短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従

          • トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)

          • 専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能

          • 5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能

          用途

          ?電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他?電圧部品の絶縁信頼性評価。

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          • ログ表示

          • HVUαログ表示

          対応OS:WindowsXp、7、8、10

           

           

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